LEICAINM100自动芯片分析显微镜配有控制器、摄像头和软件,PRIOR nano平台构成了整个成像系统。是深亚微米工艺芯片采集连续大面积显微图像信息的最佳工具。方法:(1)将样品芯片放置在直线刻度自动纳米平台上,样品芯片与电动平台的方位关系相同。
(2)通过目镜仔细观察,同时调节电动平台控制器的操纵杆和旋钮。使显微镜的物镜对准样品的某个显微区域(通常是样品的最边缘);(3)用电荷耦合器件采集样品芯片通过显微镜形成的图像;(4)电荷耦合器件控制器扩展电荷耦合器件采集的图像信息,在数字/模式之间切换;(5)将CCD控制器处理后的信号显示在计算机显示器上;在图像超过令人失望的效果之后,控制拍摄控制软件。
之后,图像保存在计算机中。第一张图像保存后,由于电动平台的控制器有原始程序,控制器不会控制电动平台自动移动到下一个相邻的显微区域(逐行或逐列,两个显微区域共用同一边界),从而将第二个显微区域的图像信息显示在计算机的显示器上。
由于处理后的芯片表面不光滑,缩放系数高,显示器上的图像可能不清晰。此时,可以通过调节电动载物台控制器来调节显微镜的焦距,稍后可以提供显微区域的清晰图像。拍摄第三微区,拍摄第四整片。
最新版本的自动芯片照片软件,可以同时处理数万张照片的拍摄,并可以自动将准备功能放在一起,可以将准备好的数万张照片显示在电脑屏幕上,解决了大量照片无法显示的问题。获得了对芯片进行综合分析的最佳工具。
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